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Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis

77.65
73.77
Autores
ISBN
978-0-306-47292-3
EAN
9780306472923
Editor
Springer Verlag Gmbh&Co. Kg
Stock
NO
Idioma
Inglés
Nivel
Profesional
Formato
Encuadernado
-
Páginas
586
Largo
-
Ancho
-
Peso
-
Edición
Fecha de edición
15-06-2003
Año de edición
2003
Nº de ediciones
3
Colección
-
Nº de colección
-